當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱 > 高低溫試驗(yàn)設(shè)備 > AP-HX-1000C6全自動芯片高低溫檢測設(shè)備
簡要描述:全自動芯片高低溫檢測設(shè)備是一種用于測試芯片在不同溫度環(huán)境下的性能和穩(wěn)定性的設(shè)備。它能夠自動調(diào)整溫度,并在設(shè)定的溫度范圍內(nèi)對芯片進(jìn)行加熱和冷卻,以模擬芯片在不同工作條件下的表現(xiàn)。
產(chǎn)品分類
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品牌 | 愛佩科技/A-PKJ | 儀器種類 | 臺式 |
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 1萬-5萬 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 建材,電子,交通,印刷包裝,紡織皮革 | 內(nèi)尺寸 | 1000*1000*1000mm |
全自動芯片高低溫檢測設(shè)備是一種用于測試芯片在不同溫度環(huán)境下的性能和穩(wěn)定性的設(shè)備。它能夠自動調(diào)整溫度,并在設(shè)定的溫度范圍內(nèi)對芯片進(jìn)行加熱和冷卻,以模擬芯片在不同工作條件下的表現(xiàn)。
具備以下功能:
溫度控制:設(shè)備能夠精確控制溫度,并在設(shè)定的溫度范圍內(nèi)穩(wěn)定工作。它通常具有快速升降溫的能力,以縮短測試周期。
自動化操作:全自動芯片高低溫檢測設(shè)備能夠?qū)崿F(xiàn)自動化操作,包括自動上料、自動測試、自動記錄數(shù)據(jù)等,提高了測試效率和準(zhǔn)確性。
數(shù)據(jù)記錄與分析:設(shè)備能夠?qū)崟r(shí)記錄測試數(shù)據(jù),并進(jìn)行分析和處理,幫助用戶了解芯片在不同溫度下的性能表現(xiàn)。
內(nèi)箱尺寸 500*600*500mm (W* H *D)
外型尺寸(約) 750*1800*1400mm (W* H *D)
溫度范圍 0℃~+150 ℃ (風(fēng)冷式)
降溫速率 RT~0℃(空載)約1℃/min
.升溫速率 RT~+150℃(空載)約3℃/min
溫度穩(wěn)定度 ±0.5℃
溫度解析精度 0.01℃
溫度均勻度 <2.0℃
全自動芯片高低溫檢測設(shè)備在半導(dǎo)體制造、電子器件測試等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。通過使用這種設(shè)備,制造商可以確保芯片在各種溫度條件下都能正常工作,提高產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。
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